一种半导体开短路测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体开短路测试设备,包括检测设备主体、蓄电池、可动检测爪、导电片、固定检测爪、干电池、电流表和电压表,所述检测设备主体的内部一侧开设有蓄电池安装槽,所述蓄电池安装槽的内部安装有蓄电池,所述检测设备主体的内部中间位置开设有设备安装槽,所述电流表和电压表均通过螺丝固定安装在设备安装槽的内部,所述检测设备主体的内部另一侧开设有干电池安装槽,所述干电池安装槽的内部安装有干电池,所述检测设备主体的内部上部开设有可动检测爪滑槽,所述可动检测爪滑槽的内部固定安装有导电片,本实用新型体积较小,方便操作,适合随身携带进行户外检测。
基本信息
专利标题 :
一种半导体开短路测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921246022.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-03
授权号 :
CN210427642U
授权日 :
2020-04-28
发明人 :
罗佳文
申请人 :
苏州领速电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市太仓市城厢镇上海东路199号1幢1620室
代理机构 :
苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
周雅卿
优先权 :
CN201921246022.0
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-04-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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