本实用新型公开了一种半导体测试设备，包括深水箱、固定框架和检测液，深水箱呈空心无顶立体箱状，深水箱的内部填充有检测液，检测液为过滤后的水溶液，固定框架包括上层框架和下层框架，固定框架与深水箱的内壁适配，固定框架的侧壁与深水箱的内壁滑动连接，上层框架和下层框架适配，固定框架的上表面开设有贯穿固定框架的固定孔。该半导体测试设备，通过设置深水箱填充检测液，提高深水箱底部的压强，通过螺纹杆和长筒螺母将装有大量半导体的固定框架限定在螺纹杆下端，利用螺纹杆底部的重力块使整个固定装置可以沉入深水箱底部，利用深水的压强向劣质半导体封装内部注水，从而具有为大量半导体设备初步检测防水的特点。