一种TEM平面样品的定位裂片装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型提供一种TEM平面样品的定位裂片装置,包括:承载平台;设于所述承载平台上的裂片针,沿待裂片材料的待裂片位置设置于所述待裂片材料的底部位置,所述待裂片材料上设有与所述待裂片位置在同一直线上的裂缝,且所述裂缝指向所述待裂片位置,通过所述裂缝快速定位所述裂片针的位置和方向,在裂片过程中,用手按压所述待裂片位置的两侧,所述裂缝自然沿着所述待裂片位置继续分裂。本实用新型结构简单,操作方便,能够快速且精准的定位裂片,且保证待裂片位置处的裂缝光滑平直,裂片质量好、效率高。

基本信息
专利标题 :
一种TEM平面样品的定位裂片装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920904324.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-17
授权号 :
CN210154896U
授权日 :
2020-03-17
发明人 :
蔡齐航谢亚珍郭语柔
申请人 :
宜特(上海)检测技术有限公司
申请人地址 :
上海市闵行区宜山路1618号8幢C101室
代理机构 :
上海唯源专利代理有限公司
代理人 :
曾耀先
优先权 :
CN201920904324.6
主分类号 :
G01N1/28
IPC分类号 :
G01N1/28  G01N23/04  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2022-03-22 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 1/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 苏试宜特(上海)检测技术有限公司
变更后 : 苏试宜特(上海)检测技术股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201100 上海市闵行区宜山路1618号8幢C101室
变更后 : 201100 上海市闵行区宜山路1618号8幢C101室
2020-08-14 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 1/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 宜特(上海)检测技术有限公司
变更后 : 苏试宜特(上海)检测技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201103 上海市闵行区宜山路1618号8幢C101室
变更后 : 201100 上海市闵行区宜山路1618号8幢C101室
2020-03-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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