本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体为一种半导体高度检测设备，包括底板，所述底板的一侧开设有活动槽，所述底板的底部固定连接有水平微调螺丝，所述活动槽的内部固定连接有滑轨，所述活动槽的内部活动连接有活动板。该半导体高度检测设备，使用时先将半导体放置在检测台上，然后可以通过调节活动板在滑轨上的位置来改变检测感应触头与半导体的接触点，通过旋转紧固钮可以固定活动板的位置，检测台边缘处的限位板与弹簧板的卡接可以便于调节半导体的旋转方位，通过设置活动板和检测台可以进行多点位的高度检测，增加高度检测的准确性，使用时可以通过激光灯照射在半导体上的光点来快速确认测量点位，达到快速对照测高的目的。