一种X射线荧光探测器的铍窗保护壳
授权
摘要
本实用新型公开了一种X射线荧光探测器的铍窗保护壳，包括有探测器本体和保护壳本体；该探测器本体的探头具有一信号进入孔，探头的内部设有覆盖信号进入孔的铍窗，保护壳本体装配于探头，保护壳本体具有一穿孔；该穿孔正对信号进入孔设置，且该穿孔的直径小于信号进入孔的直径。通过在保护壳本体上设置穿孔，该穿孔的直径小于信号进入孔的直径，这样脉冲信号能够利用穿孔聚集之后再经信号进入孔射入探头内，由此加强了探测器的脉冲信号接收能力，保证探测器接收脉冲信号的稳定性；加之利用该保护壳本体可以遮盖探头的信号进入孔，以此可以为铍窗提供良好的防护效果。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线荧光探测器的铍窗保护壳
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921122821.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-17
授权号 ：
CN210639111U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
甘浩波彭肖
申请人 ：
东莞斯坦德仪器设备有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市东城西路181号金澳大厦B区303A室
代理机构 ：
厦门市新华专利商标代理有限公司
代理人 ：
范小艳
优先权 ：
CN201921122821.7
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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