一种混合集成电路检测夹具
授权
摘要
本实用新型提出一种混合集成电路检测夹具，包括PCB板、承载板、信号输入接口、检测探针结构和推动结构，PCB板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，检测探针结构和推动结构安装在承载板上。本实用新型金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。
基本信息
专利标题 ：
一种混合集成电路检测夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921174624.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-24
授权号 ：
CN210863948U
授权日 ：
2020-06-26
发明人 ：
温恒娟李骥尧陈覃
申请人 ：
北京振兴计量测试研究所
申请人地址 ：
北京市丰台区云岗北区西里1号院30号楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921174624.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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