一种全自动压片和X射线荧光光谱仪
授权
摘要
本实用新型提供一种全自动压片和X射线荧光光谱仪，包括机架，所述机架表面设置有传输模块以及位于传输模块上方的压片模块，所述传输模板包括传送圆盘，所述传送圆盘上方均匀设置若干个绕圆心分布的径向移动控制装置，相邻径向移动控制装置之间夹角相同，每个径向移动控制装置上方设有用于盛放粉料的粉料载具，所述压片模块包括安装在传送圆盘上的压片基座，所述压片基座上方设有位于粉料载具上方的压板，所述压片基座侧部横向设置有用于将粉料载具托起与压板压合的载具承托平台。本实用新型设计合理，结构简单，使用方便，具有广阔应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种全自动压片和X射线荧光光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921354100.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-20
授权号 ：
CN210863600U
授权日 ：
2020-06-26
发明人 ：
张熊熊梁新辉陈亚洲陈招娣洪立昕
申请人 ：
科立视材料科技有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市马尾区开发区儒江西路12号
代理机构 ：
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 ：
蔡学俊
优先权 ：
CN201921354100.9
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 B30B11/08 B30B15/00 B30B15/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-06-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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