带结温监控高温反偏的电路控制结构

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本实用新型公开了一种带结温监控高温反偏的电路控制结构，包括作为主体的高温反偏测试电路，所述的高温反偏测试电路包括被测二极管D1、开关K1、开关K2、电阻R1和电压源VR，所述的被测二极管D1的两端接有结温监控测试电路，所述的结温监控测试电路包括开关K3、开关K4和电流源Im。本实用新型克服了传统的二极管高温反偏试验中由于没有设置结温监控导致在试验中易出现器件失效的风险的问题。本实用新型具有采集数据方便、计算数据方便和测量精度较高等优点。

基本信息

专利标题：

带结温监控高温反偏的电路控制结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921655973.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-30

授权号：

CN210894599U

授权日：

2020-06-30

发明人：

吴志刚刘年富陈益敏张健田熠赵翔

申请人：

杭州高裕电子科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市余杭区仓前工业园龙泉路6号7B三楼高裕电子

代理机构：

杭州融方专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

沈相权

优先权：

CN201921655973.3

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2020-08-07 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G01R 31/26
变更事项 : 专利权人
变更前 : 杭州高裕电子科技有限公司
变更后 : 杭州高裕电子科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 311121 浙江省杭州市余杭区仓前工业园龙泉路6号7B三楼高裕电子
变更后 : 311107 浙江省杭州市余杭区仁和街道永泰路2号16#

2020-06-30 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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