一种IGBT结温测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种IGBT结温测量装置，通过测量IGBT的发射极电流以及关断延迟时间，结合IGBT结温与关断延迟时间、发射极电流的关系，实现IGBT结温的在线检测。本实用新型中关断延迟时间通过测量IGBT的辅助发射极与发射极之间的电压得到，关断延迟时间则由时间数字转换器测量得到。本实用新型克服了现有IGBT结温检测方法的缺点，利用近年来快速发展的时间数字转换技术，将时间信号转换为数字信号，仅需采集发射极寄生电感上的感应电压和发射极电流，具有建模简单，容易测量，精度高等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种IGBT结温测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020718234.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-06
授权号 ：
CN213364950U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
徐国卿王玺年
申请人 ：
上海大学
申请人地址 ：
上海市宝山区上大路99号
代理机构 ：
上海上大专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
何文欣
优先权 ：
CN202020718234.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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