具有新型复位结构的老化测试座

授权

摘要

本实用新型提出了具有新型复位结构的老化测试座，包括配合使用的基座、基盖和转换板，通过在所述基座的第四侧壁外侧设置复位结构，利用杠杆原理，使其同时与转换板和基盖相互配合来替代现有老化座中的弹簧来实现复位，避免了弹簧生锈以及长时间使用而造成的复位力不足等问题，且减少了下压时对基盖的反作用力，可以满足测试设备同时下压多个基盖的要求，保证了测试质量，提高了测试效率。

基本信息

专利标题：

具有新型复位结构的老化测试座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921679859.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-09

授权号：

CN210982531U

授权日：

2020-07-10

发明人：

杨晓华石光普史先映

申请人：

苏州英世米半导体技术有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市相城区黄桥张庄工业园蠡方路20号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921679859.4

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04