本实用新型提供一种单晶硅片用可调检测装置，包括工作单元和置于所述工作单元上方的检测单元，所述工作单元包括用于放置硅片的工作台；所述检测单元包括用于固定激光束并可调节所述激光束位置的框架组件和用于固定相机并可调节所述相机位置的固定组件，所述框架组件置于所述工作台上方侧面，所述固定组件置于所述工作台正上方。本实用新型设计的检测装置，尤其是适用于不同直径硅片的PL检测，可根据不同直径的硅片，进行自行调节相机和激光束的位置，快速准确地进行配位，自动化程度高，保证硅片缺陷检测的准确性，提升工作效率，降低生产成本。