单晶硅检测样片专用石英舟
授权
摘要

一种单晶硅检测样片专用石英舟,包括第一连接板、第二连接板、检测样片支撑杆、防变形固定件,第一连接板、第二连接板对向设置,检测样片支撑杆设置在第一连接板、第二连接板之间,检测样片支撑杆的两个端部分别与第一连接板、第二连接板相连接,检测样片支撑杆上设置有卡槽,检测样片支撑杆呈U形结构排列,防变形固定件设置在检测样片支撑杆的下方;本实用新型对石英舟结构进行优化设计,能够将检测样片竖直放置,防止检测样片向两侧偏倒,避免应力集中对处理效果造成影响,防变形固定件对检测样片支撑杆具有固定约束作用,在检测样片支撑杆热胀冷缩后,可以防止检测样片支撑杆发生变形,导致检测样片损毁及石英舟损伤的现象发生。

基本信息
专利标题 :
单晶硅检测样片专用石英舟
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022248141.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-10
授权号 :
CN213327941U
授权日 :
2021-06-01
发明人 :
祁海滨冉泽平谢国荣倪浩然李金波王忠保王凯
申请人 :
宁夏中欣晶圆半导体科技有限公司
申请人地址 :
宁夏回族自治区银川市西夏区光明西路28号
代理机构 :
宁夏合天律师事务所
代理人 :
曹广涛
优先权 :
CN202022248141.9
主分类号 :
C30B33/02
IPC分类号 :
C30B33/02  G01N1/28  
相关图片
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C30
晶体生长
C30B
单晶生长;共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层;材料的区熔精炼;具有一定结构的均匀多晶材料的制备;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理;其所用的装置
C30B33/00
单晶或具有一定结构的均匀多晶材料的后处理
C30B33/02
热处理
法律状态
2021-06-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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