一种垂直发光芯片测试及外观检验装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种垂直发光芯片测试及外观检验装置，包括底座、支撑板和导杆，所述底座上侧通过螺栓连接有所述支撑板，所述底座另一侧设置有所述导杆，所述支撑板上侧设置有一号电动推杆，所述一号电动推杆一端设置有滑块。有益效果在于：本实用新型通过设置的步进电机、滑环、转轴、测试平台和放置台，使得芯片从放置在测试台上后，自动通过位置调整，然后移动到待检验区域，不需要人工进行操作，简化检验步骤，提高检验效率。
基本信息
专利标题 ：
一种垂直发光芯片测试及外观检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921847127.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN211373534U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
张振峰杨国良邱德明
申请人 ：
武汉盛为芯科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区大学园路20号武汉普天科技园2#大楼一层103-2室
代理机构 ：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李季
优先权 ：
CN201921847127.1
主分类号 ：
G01B11/30
IPC分类号 ：
G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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