一种垂直发光芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机。有益效果在于：本实用新型通过在旋转座和旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而提高旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果，同时，可以通过升降调节开关可以控制电动推杆动作，对CCD检测镜头的高度进行调整，使得CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。
基本信息
专利标题 ：
一种垂直发光芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921847128.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN211878118U
授权日 ：
2020-11-06
发明人 ：
张振峰杨国良邱德明
申请人 ：
武汉盛为芯科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区大学园路20号武汉普天科技园2#大楼一层103-2室
代理机构 ：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李季
优先权 ：
CN201921847128.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01N21/88 G01C11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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