一种用于深度器件深度精度测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于深度器件深度精度测试装置,针对现有的学术界和工业界对深度器件的深度标定及深度检测没有具体的装置及有效、统一、快速的方法的问题,提出如下方案,包括六轴平台调整组件、直线导轨、标板、反射镜、光阱,由深度器件向标板投射图案,并经反射后由深度器件的内部处理器根据采集到的结构光团计算得到深度图像作为参考图像,并将数据信息存储到处理器内部的寄存器,完成深度器件标定,通过不同相对、绝对距离,进行标定结果验证,并根据深度器件的内部算法对标定数据进行修正,此过程为深度检测。本实用新型结构新颖,且自动化水平及测量精度较高,满足不断增长的深度具体需求,使用简便。

基本信息
专利标题 :
一种用于深度器件深度精度测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921909518.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-04
授权号 :
CN210625587U
授权日 :
2020-05-26
发明人 :
张世伟
申请人 :
蔚谱光电(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市宝山区同济路2号1幢1H179室
代理机构 :
杭州亿创果专利代理有限公司
代理人 :
朱琴琴
优先权 :
CN201921909518.1
主分类号 :
G01B11/22
IPC分类号 :
G01B11/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2020-05-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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