一种多接口SE芯片验证装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片测试验证领域，在实际应用中SE芯片带有I2C和SPI接口，并且支持1.62V‑5.5V电压工作。因此验证平台需要对SE进行1.62V‑5.5V电压供电，而且要在1.62V‑5.5V全电压下与SE芯片进行I2C和SPI通信。测试I2C和SPI的各项功能与性能。本实用新型提出了一种多接口SE芯片验证装置，该装置设计了1.62V‑5.5V调压电路，可以输出SE需要的供电电源，该装置也设计了I2C和SPI的电平转换电路，能够满足1.62V‑5.5V电压下SE芯片I2C和SPI的接口通信。通过遍历电压、通信速率、时钟占空比等各项测试指标来评价SE芯片的接口功能和性能。
基本信息
专利标题 ：
一种多接口SE芯片验证装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922028427.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-21
授权号 ：
CN211180801U
授权日 ：
2020-08-04
发明人 ：
张龙
申请人 ：
北京中电华大电子设计有限责任公司
申请人地址 ：
北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电子网络安全和信息化产业基地C栋
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922028427.3
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F13/40 G06F13/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2020-08-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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