一种光栅周期的测量装置
授权
摘要
本申请提供了一种光栅周期的测量装置。该装置中，级联光栅可以安装于光源上方，安装座可以位于级联光栅中相对的两侧边上，用于安装待测光栅。如此，光源发出的光线从级联光栅的底面射入，并从级联光栅的顶面射出，再从待测光栅的底面射入，并从待测光栅的顶面射出。通过安装于待测光栅上方的观测窗口，可以观测到光线透过级联光栅和待测光栅后形成的干涉图案，并采用安装于待测光栅上方的摄像头拍摄干涉图案，以便实验人员根据拍摄到的干涉图案确定待测光栅的周期。整个装置结构简单，只需使用级联光栅即可对待测光栅的周期进行测量，大大降低了使用和日常维护的难度。
基本信息
专利标题 ：
一种光栅周期的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922059578.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-25
授权号 ：
CN212180228U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
尹志军张虞吴冰许志城
申请人 ：
南京南智先进光电集成技术研究院有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦690室
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
逯长明
优先权 ：
CN201922059578.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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