一种电接头及老化板测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种电接头及老化板测试设备。一种电接头，用于电连接老化板，导电电极转动连接于基体，所述导电电极能够相对于基体沿第二方向旋转；导电电极连接的旋转挡位能够沿第二方向运动并止抵于基体；一种老化板测试设备，所述老化板测试设备包括上述的电接头；导电电极与老化板电连接稳定可靠。
基本信息
专利标题 ：
一种电接头及老化板测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922060521.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN211374953U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
刘振辉沈杰
申请人 ：
矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922060521.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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