一种太赫兹波探测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种太赫兹波探测装置,本实用新型提供的太赫兹波探测装置,包括太赫兹波辐射源、第一透镜、用于承载待测物的载物台、采集部、转换部和信号输出部,所述太赫兹波辐射源设置在所述第一透镜的一侧,并正对所述第一透镜设置,所述第一透镜用于将太赫兹波辐射源产生的辐射状的太赫兹波转换为相互平行的太赫兹波,所述采集部设置在所述第一透镜的另一侧,并正对所述第一透镜设置,通过并列设置的采集探头,将所有穿过待测物的太赫兹波,且每个采集探头采集对应部位的太赫兹波并将该部位的太赫兹波汇聚至一点以增强该部位的辐射强度。本实用新型提供的太赫兹波探测装置具有增强每个采集部位辐射强度的效果。

基本信息
专利标题 :
一种太赫兹波探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922110866.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-30
授权号 :
CN211122524U
授权日 :
2020-07-28
发明人 :
李龙
申请人 :
北立传感器技术(武汉)有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东西湖区五环大道31号
代理机构 :
武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
尹伟
优先权 :
CN201922110866.9
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2020-07-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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