基于半导体制冷的高精度低温校验炉
授权
摘要
本实用新型涉及温度校验技术领域，特别涉及基于半导体制冷的高精度低温校验炉，包括温控箱、制冷装置、加热装置、温度传感器、单片机控制器、触摸屏显示器和冷却风扇，所述制冷装置、加热装置、温度传感器、单片机控制器均设置于温控箱内，制冷装置、加热装置分别通过驱动电路连接于单片机控制器，温度传感器通过信号调理电路连接于单片机控制器，所述触摸屏显示器与单片机控制器串口通信连接，所述温控箱侧壁还设置有冷却风扇。与现有技术相比，本实用新型的基于半导体制冷的高精度低温校验炉采用半导体制冷技术，与采用压缩机制冷相比，具备低噪音，体积小，质量小，功耗小，温度波动小等特点，使现场校准活动易于开展。
基本信息
专利标题 ：
基于半导体制冷的高精度低温校验炉
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922121197.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211011988U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
杨萌
申请人 ：
深圳国检计量测试技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道沙河西路5158号百旺研发大厦16层
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
彭涛
优先权 ：
CN201922121197.5
主分类号 ：
F25B21/02
IPC分类号 ：
F25B21/02 F25B49/00 G06F3/044 G05B19/042
IPC结构图谱
F
F部——机械工程；照明；加热；武器；爆破
F25
制冷或冷却；加热和制冷的联合系统；热泵系统；冰的制造或储存；气体的液化或固化
F25B
制冷机，制冷设备或系统；加热和制冷的联合系统；热泵系统
F25B
制冷机，制冷设备或系统；加热和制冷的联合系统；热泵系统
F25B21/00
应用电或磁效应的制冷机器、装置或系统
F25B21/02
应用珀耳贴效应；应用能斯特—厄廷豪森效应
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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