一种芯片检测设备的开合式探针组件
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片检测设备的开合式探针组件，包括探针组件安装底板，探针组件安装底板上设置有开合滑动导轨，开合滑动导轨上设置有第一探针滑动安装板及第二探针滑动安装板，第一探针滑动安装板上设置有至少一个第一探针模组，第二探针滑动安装板上设置有第二探针模组，探针组件安装底板上还设置有第一开合驱动气缸及第二开合驱动气缸，第一开合驱动气缸的输出端连接到第一探针滑动安装板，第二开合驱动气缸的输出端连接到第二探针滑动安装板。该种芯片检测设备的开合式探针组件具有结构简单、性能稳定可靠、节省时间成本、提高检测小测效率等现有技术所不具备的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测设备的开合式探针组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922155983.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-02
授权号 ：
CN211627747U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
彭义青冼平东黄明春王量容金波吴述林黄为民周厚利黎启造冯秀祥
申请人 ：
深圳市泰克光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道河东航城工业区1栋A6楼厂房
代理机构 ：
深圳市深可信专利代理有限公司
代理人 ：
丘杰昌
优先权 ：
CN201922155983.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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