本实用新型涉及芯片检测技术领域，公开了一种用于植球芯片检测的垂直探针卡，包括电路板，电路板的中心设有避让孔，电路板的顶面位于避让孔的上端设有上定位座，上定位座的外侧设有压套，电路板的底面位于避让孔的下端设有下定位座，下定位座的边缘与压套之间通过螺栓连接，上定位座内设有定位孔，定位孔内设有探针，探针与定位孔之间填充有绝缘胶，下定位座的中心设有中心通孔，下定位座的下侧面设有陶瓷基板，陶瓷基板上设有导向孔，探针的下端穿过导向孔伸出陶瓷基板外，探针与导向孔之间间隙配合，探针的上端通过导线与电路板焊接连接。本实用新型中的探针垂直度高，能准确与球状焊点稳定接触，进而提高植球芯片的检测精度。