一种新型芯片检测用探针卡
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型芯片检测用探针卡，包括PCB板、设置于PCB板上的金属触点及若干与金属触点抵接的探针，所述PCB板上均布有若干连接孔，所述金属触点位于连接孔内，所述探针包括连接头与针体，所述连接头卡入连接孔内，所述PCB板上可拆卸设置有定位板，所述定位板上开设有供针体穿出的通槽。本实用新型提供的新型芯片检测用探针卡，可以实现探针的快速更换，且无需焊接，也有利于延长探针卡的使用寿命。
基本信息
专利标题 ：
一种新型芯片检测用探针卡
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123061476.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-07
授权号 ：
CN216560710U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
张敏朱旭旦
申请人 ：
盛华微纳科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区唯亭亭东路55号厂房4号楼5楼西侧
代理机构 ：
成都明涛智创专利代理有限公司
代理人 ：
梁月钊
优先权 ：
CN202123061476.0
主分类号 ：
G01R1/073
IPC分类号 ：
G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线；测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
