一种微波芯片检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种微波芯片检测装置，属于芯片测试技术领域，解决微波芯片的无损检测问题，装置包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)；测试装具(2)，用于无损安装待测微波芯片；控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过测试装具(2)与待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接；输入端口(4)外接微波信号源(9)，用于为待测微波芯片提供信号源；输出端口(5)外接频谱分析仪(10)，用于检测待测微波芯片的输出信号；控制单元(3)，用于产生控制信号，控制待测微波芯片输出信号的参数。本实用新型制造成本低、结构简单；测试过程简单、便捷，适用于批量测试。
基本信息
专利标题 ：
一种微波芯片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922274503.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-17
授权号 ：
CN212207573U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
邱少军于孟国王晶王惠赵娜杨盼
申请人 ：
北京振兴计量测试研究所
申请人地址 ：
北京市丰台区云岗北区西里1号院30号
代理机构 ：
北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李明里
优先权 ：
CN201922274503.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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