本实用新型公开了一种大功率半导体生产用测试仪，包括主体和夹持座，所述主体顶部的两侧内壁焊接有同一个横梁，所述横梁顶部一侧焊接有第一电动伸缩杆，所述第一电动伸缩杆的伸缩端焊接有套环，所述套环套接于横梁上，所述套环底部焊接有第二电动伸缩杆，所述第二电动伸缩杆底部设有夹持座，所述第二电动伸缩杆的伸缩端伸入夹持座内部，所述夹持座两侧内壁均焊接有弹簧，所述弹簧另一端均焊接有夹持臂，所述夹持臂中部均贯穿有固定轴，所述夹持臂底部焊接有检测探针。本实用新型可以测量半导体不同温度下的电阻率，分析更全面、检测数据更可靠。可实现对半导体各个位置的检测，无需人工移动检测探针或半导体，省时省力，检测效率高。