基于微干涉阵列的紧凑型快照式光谱成像装置
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摘要
本实用新型涉及一种快照式光谱成像装置,特别涉及一种基于微干涉阵列的紧凑型快照式光谱成像装置,解决了现有快照式光谱成像装置难以满足对温室气体测量时,需要成像装置体积小、回访频率高、空间分辨率高和空间覆盖率高的技术问题。该装置的特殊在于:包括沿光路依次设置的成像物镜、光阑、准直物镜、滤光片、微干涉阵列、微光阑阵列、微透镜阵列及大靶面探测器;微干涉阵列是由m乘n个厚度不同的干涉调制单元组成的m行n列的干涉调制单元阵列;位于第一行第一列的干涉调制单元最薄,每一行从第一列至第n列厚度依次递增,从第2行起,该行第一列的厚度大于上一行最后一列的厚度;光阑单元及透镜单元与干涉调制单元一一对应。
基本信息
专利标题 :
基于微干涉阵列的紧凑型快照式光谱成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922419632.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-27
授权号 :
CN211401425U
授权日 :
2020-09-01
发明人 :
柏财勋李立波冯玉涛范文慧胡炳樑李勇畅晨光李西杰
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
王少文
优先权 :
CN201922419632.2
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28 G01J3/02 G01N21/25
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2020-09-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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