一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置

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摘要

本实用新型提供了一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置，首先设置了压环单元，其包括压环工位和压环机构，压环单元的周圈设置有第一通道、第二通道和第三通道，第一通道连接有膜壳输送机构，第二通道连接有圆环输送机构，膜壳在膜壳输送机构的驱动下进入压环工位，圆环在圆环输送机构的驱动下进入压环工位，圆环在压环机构的作用下压紧于膜壳内，圆环和膜壳共同构成绝缘栅双极型晶体管本体，移送单元的入料口连接于第三通道，移送单元上设置有多个测试工位且一侧皆设置有降料机构，移送单元的第一出料口一侧设置有装料盘且装料盘位于高压测试机构内。本实用新型相较于现有技术提高了绝缘栅双极型晶体管的静态测试效率。

基本信息

专利标题：

一种绝缘栅双极型晶体管的静态测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922446052.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-30

授权号：

CN212433325U

授权日：

2021-01-29

发明人：

沈向辉

申请人：

太仓市晨启电子精密机械有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市太仓市浮桥镇牌九路西侧、新浦河北侧

代理机构：

苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

罗磊

优先权：

CN201922446052.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R31/12 G01N21/95