一种片状智能卡模块测试机
授权
摘要
本实用新型为一种片状智能卡模块测试机，该测试机使用探针排，结合载台的定位功能，对智能卡逐个模块进行检测，提高了检测效率。包括底座，所述底座上设有载台，所述载台上方设有升降平台，所述升降平台下设有探针排；所述探针排的探测端在所述升降平台的带动下接近或远离所述载台；所述探针排的输出端将信号传送至与其适配的计算机；所述载台两侧均设有固定座，每个所述固定座上均设有限位滑轮；所述限位滑轮抵靠在所述载台的侧边，所述载台的侧边设有多个限位槽。
基本信息
专利标题 ：
一种片状智能卡模块测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922452973.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN211374927U
授权日 ：
2020-08-28
发明人 ：
吴文忠左永刚
申请人 ：
厦门市明晟鑫邦科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市翔安区厦门火炬高新区(翔安)产业区台湾科技企业育成中心E502B室
代理机构 ：
厦门荔信航知专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐婕
优先权 ：
CN201922452973.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-08-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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