一种基于深度学习的手机缺陷检查视觉装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

一种基于深度学习的手机缺陷检查视觉装置,涉及光学检测设备技术领域,包括支架,支架上设有导向槽,支架上还设有图像采集装置,支架上还设有在线定位触发装置,支架下设有操作箱,图像采集装置获取待检测物图像,软件对得到的图像进行处理,并判断产品胶路是否符合要求或手机总成是否有缺陷。根据产品特性选择带有不同型号平行同轴光源和低角度条形光源组合的在线定位触发装置,让光源装置的光线透过平行同轴光源和低角度条形光源组合后得到目标波长的光,能达到良好的打光效果,良好打光结合图像采集装置保证了本缺陷检测装置具有识别率高、检测速度快、设备成本低、系统运行稳定的优点。

基本信息
专利标题 :
一种基于深度学习的手机缺陷检查视觉装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922457303.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN212180641U
授权日 :
2020-12-18
发明人 :
朱芳程
申请人 :
深圳市智信精密仪器有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区2号一层
代理机构 :
深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
李绍飞
优先权 :
CN201922457303.7
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-03-12 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 21/88
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市智信精密仪器有限公司
变更后 : 深圳市智信精密仪器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区2号一层
变更后 : 518000 广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区2号一层
2020-12-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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