一种硫族元素化合物晶片辅助局域生长过渡金属硫族化合物的方...
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摘要

本发明涉及一种硫族元素化合物晶片辅助局域生长过渡金属硫族化合物的方法,所述制备方法包括如下步骤:将预备好的衬底均匀涂一层过度金属源后反扣于硫族元素化合物晶片上,二者构建出局域空间置于管式炉中。在高温情况下,由硫族元素晶片释放的硫族元素与衬底上的过渡金属源直接发生反应在衬底上得到相应的过渡金属化合物。相比常规CVD方法,该方法完美解决了在生长过程中前驱体源扩散供应不足不均匀的问题。具有工艺简单,生长速度快,普适性强等特点,可用于制备不同种类的过渡金属硫族化合物(TMDC)材料,为二维材料的制备提供了一种新思路。

基本信息
专利标题 :
一种硫族元素化合物晶片辅助局域生长过渡金属硫族化合物的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113511681A
申请号 :
CN202010273633.5
公开(公告)日 :
2021-10-19
申请日 :
2020-04-09
授权号 :
CN113511681B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
刘开辉左勇刚刘灿
申请人 :
北京大学
申请人地址 :
北京市海淀区颐和园路5号
代理机构 :
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 :
王欣
优先权 :
CN202010273633.5
主分类号 :
C01G39/06
IPC分类号 :
C01G39/06  C01G41/00  C01B19/04  C01B19/00  C01G9/08  
相关图片
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C01
无机化学
C01G
含有不包含在C01D或C01F小类中之金属的化合物
C01G39/00
钼的化合物
C01G39/06
硫化物
法律状态
2022-06-03 :
授权
2021-11-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : C01G 39/06
申请日 : 20200409
2021-10-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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