本发明提供了一种待测芯片的恒温装置，该恒温装置包括箱体和设于所述箱体上的凹槽，所述凹槽用于容纳所述芯片，所述箱体的内壁与所述凹槽的外壁之间形成容纳空间，所述容纳空间内填充有恒温液，以使所述凹槽内的温度变化保持在预设范围内。本发明提供的待测芯片的恒温装置，通过在箱体上设置凹槽，凹槽收容待测的芯片，并在箱体的内壁与凹槽的外壁之间形成的容纳空间内填充恒温液，使得芯片所处的凹槽内的温度变化保持在预设范围内，使得芯片能够在恒温环境下进行测试。