基于DMD的光谱成像目标检测方法及系统
授权
摘要
本发明涉及一种基于DMD的光谱成像目标检测方法及系统，该方法通过控制DMD对未知场景所成的像进行m次低分辨率全局粗略扫描(m≥1)，确定出p个有用目标的像在DMD工作面上的大致区域(p≥1)，减小微镜扫描的带宽，再对有用区域执行n次高分辨精细扫描(n≥1)，以获取足够的有用信息，实现未知场景中所有局部有用目标的检测与识别。
基本信息
专利标题 ：
基于DMD的光谱成像目标检测方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112268519A
申请号 ：
CN202011031304.6
公开（公告）日 ：
2021-01-26
申请日 ：
2020-09-27
授权号 ：
CN112268519B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
虞益挺董雪仝赓
申请人 ：
西北工业大学宁波研究院
申请人地址 ：
浙江省宁波市高新区清逸路218弄A3栋5楼
代理机构 ：
宁波甬致专利代理有限公司
代理人 ：
高瑞霞
优先权 ：
CN202011031304.6
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-02-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20200927
申请日 : 20200927
2021-01-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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