缺陷预测方法和装置、存储介质和电子装置

授权

摘要

本发明公开了缺陷预测方法和装置、存储介质和电子装置。该方法包括：通过第一目标网络对源域数据集和目标域数据集分别进行编码，得到源域数据集对应的第一内在编码向量、以及目标域数据集对应的第二内在编码向量；将第一内在编码向量和第二内在编码向量分别输入至第二目标网络，得到第一内在编码向量对应的第一潜在编码向量、以及第二内在编码向量对应的第二潜在编码向量；通过第一内在编码向量和第一潜在编码向量确定第一特征向量，以及通过第二内在编码向量和第二潜在编码向量确定第二特征向量；使用目标分类器对第二特征向量进行分类，得到分类结果，分类结果用于表示第二特征向量是否存在缺陷。

基本信息

专利标题：

缺陷预测方法和装置、存储介质和电子装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112199280A

申请号：

CN202011065824.9

公开（公告）日：

2021-01-08

申请日：

2020-09-30

授权号：

CN112199280B

授权日：

2022-05-20

发明人：

韩璐严军荣

申请人：

三维通信股份有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市滨江区火炬大道581号三维大厦C座

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

江舟

优先权：

CN202011065824.9

主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/36 G06K9/62