缺陷检测方法及装置、终端及存储介质
实质审查的生效
摘要
本公开是关于一种缺陷检测方法及装置、终端及存储介质。所述缺陷检测方法包括:控制超声波发生器件朝屏幕组件发射超声波；所述屏幕组件包括：屏幕和/或覆盖在所述屏幕上的透明盖板；检测所述超声波的回波，得到回波信息；屏幕组件根据所述回波信息，确定所述屏幕组件是否存在缺陷。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测方法及装置、终端及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114531507A
申请号 ：
CN202011323111.8
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2020-11-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡现坤
申请人 ：
北京小米移动软件有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
代理机构 ：
北京善任知识产权代理有限公司
代理人 ：
张振伟
优先权 ：
CN202011323111.8
主分类号 ：
H04M1/24
IPC分类号 ：
H04M1/24
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04M 1/24
申请日 : 20201123
申请日 : 20201123
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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