智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法以及装置
授权
摘要

本申请提出一种智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法、装置和电子设备。其中,该方法包括:在智能终端OLED面板的制造过程中,确定针对智能终端OLED面板的当前制造阶段;获取当前制造阶段下的面板的拍摄图像;确定当前拍摄图像的类型,并根据类型确定对应的缺陷检测方式;以及根据对应的缺陷检测方式对拍摄图像进行检测,并根据检测结果确定所述面板是否存在缺陷。本申请可以及时检测发现制造进程中的面板上出现的缺陷,以便于对能够进行修复的进行及时修复,不能进行修复的放弃后续工艺,从而可以极大地提高生产良率,降低生产成本。

基本信息
专利标题 :
智能终端OLED面板制造工艺的缺陷检测方法以及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112986259A
申请号 :
CN202110181072.0
公开(公告)日 :
2021-06-18
申请日 :
2021-02-09
授权号 :
CN112986259B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
叶佐昌王燕薛义深
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩海花
优先权 :
CN202110181072.0
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/95  G01N21/84  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-24 :
授权
2021-07-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20210209
2021-06-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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