一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置
公开
摘要
本申请涉及图像处理技术领域，提供一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置。该方法包括：将采集的MiniLED背光面板图像划分为多个LED图像，每个LED图像包含一个LED颗粒；按照缺陷类型，采用与缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态，从而可以快速、准确的检测出MiniLED背光面板中LRD颗粒的缺陷。
基本信息
专利标题 ：
一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577805A
申请号 ：
CN202011378951.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
修浩然王嘉伟
申请人 ：
合肥欣奕华智能机器股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市新站区龙子湖路与荆山路交口西南
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
冯艳莲
优先权 ：
CN202011378951.4
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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