一种基于直接进样质谱的定性和定量分析方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于直接进样质谱的定性和定量分析方法。该方法采用直接进样方式将样本注入质谱，其中代谢物的一级信息采用拼接式分段扫描模式进行采集，二级信息采用数据非依赖模式在一个或多个碰撞能下进行采集；采用质谱数据读取软件对一级、二级质谱扫描点信息进行提取；随后通过数据库一级匹配、同位素分布比较、二级谱图比较以及相关性分析获得代谢物定性结果；同分异构体的定量通过筛选同分异构体的特征二级碎片离子来完成。此发明具有代谢物一级、二级质谱信息覆盖广，实验过程简单，数据处理方便，时间和人力成本低等优势，在未来高通量代谢组学研究中具有广阔的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种基于直接进样质谱的定性和定量分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624317A
申请号 ：
CN202011456204.8
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2020-12-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许国旺王利超胡春秀石先哲刘心昱路鑫秦望舒
申请人 ：
中国科学院大连化学物理研究所
申请人地址 ：
辽宁省大连市沙河口区中山路457-41号
代理机构 ：
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 ：
马驰
优先权 ：
CN202011456204.8
主分类号 ：
G01N27/62
IPC分类号 ：
G01N27/62 G16B20/00 G16B40/00 G16B50/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/62
通过测试气体的电离，例如气溶胶；通过测试放电，例如阴极发射
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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