一种材料电磁辐射性能测试探针台
授权
摘要

本实用新型公开了一种材料电磁辐射性能测试探针台,包括视像显微机构、扫描接收探头、用于调节扫描接收探头位置的扫描调节机构、用于放置被测件的载物台、支撑载物台的测试座、能够与被测件接触而导通的探针器,所述测试座上设有用于调整探针器位置的探针调节机构。我们通过探针调节机构带动探针器的探针与被测件接触而导通而接受材料测试的馈电,探针器与外界的信号接收处理仪器连接,通过信号接收处理仪器处理被测件在电磁射线环境下的反馈的参数信号,从而测试出被测件的两个表面的近场及辐射特性。

基本信息
专利标题 :
一种材料电磁辐射性能测试探针台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020336481.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-17
授权号 :
CN212031560U
授权日 :
2020-11-27
发明人 :
胡呈祥
申请人 :
中山米微科技有限公司
申请人地址 :
广东省中山市石岐区民盈路1号第八幢一楼101室
代理机构 :
中山市铭洋专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
邹建平
优先权 :
CN202020336481.4
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R1/02  G01R29/08  G01B9/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-11-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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