测量耦光平台
授权
摘要
本实用新型公开一种测量耦光平台，其包含第一多模光纤、第一透镜组及第一五轴平台。第一透镜组包含第一准直透镜及第一聚焦透镜，第一准直透镜准直待测元件发出的多个光束，而第一聚焦透镜将准直后的该些光束聚焦。第一五轴平台用于将第一多模光纤及第一透镜组与待测元件对位以进行耦光，使该些光束被第一聚焦透镜聚焦后进入第一多模光纤的纤芯。
基本信息
专利标题 ：
测量耦光平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020747167.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-08
授权号 ：
CN212207745U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
黄柏昭傅从信罗丕丞邓亚欣邱欣男何宗谕刘贵全
申请人 ：
华星光通科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
陈小雯
优先权 ：
CN202020747167.5
主分类号 ：
G02B6/32
IPC分类号 ：
G02B6/32 G02B6/42
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B6/00
光导；包含光导和其他光学元件的装置的结构零部件
G02B6/24
光波导的耦合
G02B6/26
光耦合装置
G02B6/32
有透镜调焦装置的
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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