一种背光芯片检测装置
授权
摘要
本实用新型属于检测设备技术领域，具体公开了一种背光芯片检测装置，包括定位机构和检测机构；所述定位机构包括固定板和限位框；所述固定板表面中心开设有条形开口，条形开口内设置有限位框，限位框与固定板为可拆卸连接，所述限位框中心开设有第一通孔；所述第一通孔内部设置有背光芯片本体，固定板两侧开设有第一螺孔，固定板下方设置有检测机构；所述检测机构包括浮板、探针组件和钻孔板；所述浮板设置于固定板下方，浮板下方设置有钻孔板，钻孔板和浮板表面中心开设有第二通孔，第二通孔内部固定有探针组件；所述探针组件包括安装板、固定管和探针。
基本信息
专利标题 ：
一种背光芯片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020759847.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-09
授权号 ：
CN212083609U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
郑澎罗旺宝郑曙涛莫树任
申请人 ：
深圳市比亚泰科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区华宁路52号恒昌荣星辉科技工业园B栋星辉科技工业园B栋2层
代理机构 ：
合肥中博知信知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐俊杰
优先权 ：
CN202020759847.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
