一种高光物体面型的非接触无损测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种高光物体面型的非接触无损测量系统，它包括投影光源系统、偏振器、图像传感器、图像采集卡和电脑；所述偏振器包括起偏器P1和检偏器P2，其投影系统由投影光源系统和起偏器P1组成，其成像系统由图像传感器和检偏器P2组成；所述图像传感器是接收变形光栅像的面阵探测器；所述投影光源为强度按正弦分布的面阵自然光，条纹的栅线垂直于参考平面。本实用新型从傅里叶变换轮廓术中光场的偏振特性出发，利用光学器件偏振器的滤光作用，结合现有傅里叶变换轮廓术和Phong光照模型，提出了一种高光物体面型的测量系统，理论分析与应用结果均证明了镜面反射光将影响调制光场正确的高度分布。
基本信息
专利标题 ：
一种高光物体面型的非接触无损测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021208648.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-28
授权号 ：
CN212274886U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
陈利娟
申请人 ：
重庆市气象信息与技术保障中心
申请人地址 ：
重庆市渝北区新牌坊一路68号
代理机构 ：
成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨佳丽
优先权 ：
CN202021208648.5
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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