一种面板老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种面板老化测试装置，包括底座和加热装置，所述加热装置包括加热片和隔热板，所述隔热板上至少布置有一个导热板放置槽，每个导热板放置槽内设置有与加热片贴合的导热板，所述导热板用于放置待测试面板，所述导热板的厚度不大于所述导热板放置槽的深度。本实用新型不仅结构的简单、使用方便，而且能够满足小批量产品老化测试，同时可根据需求，移动至不同的区域使用。
基本信息
专利标题 ：
一种面板老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021401507.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-16
授权号 ：
CN211426678U
授权日 ：
2020-09-04
发明人 ：
韩华王昕唯
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄行军
优先权 ：
CN202021401507.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-09-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
