本实用新型公开了一种半导体测试分选机，其包括第一工作台、第二工作台、上料机构、下料机构、循环转运机构以及测试机构；上料机构和下料机构分别设置在第一工作台上的两侧，测试机构设置在第二工作台上；循环转运机构包括循环转运输送线和设置在循环转运输送线上的若干周转盘，循环转运输送线的一端与第一工作台对接，另一端与第二工作台对接，循环转运输送线用于带动其上的若干周转盘以递进移动方式在第一工作台和第二工作台之间循环移动；具有上述结构的半导体测试分选机，通过上料、循环输送、测试、下料分选等多工位的设置，实现了对芯片测试工作的全自动运行，有效提高测试效率，使用方便。