一种偏光片光学性能测量系统

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摘要

本发明提供一种偏光片光学性能测量系统，其特征在于：沿光路方向依次设置有光源、准直镜、退偏器、起偏器、聚光镜和光电探测器，其中，光源为白色LED或者其他多光谱光源；所述准直镜用于将光源的发散光转为平行光；所述退偏器将射入其内的光过滤成完全非偏振光；所述起偏器为标准偏光片，设置于旋转平台上，可在旋转电机的带动下旋转任意角度；所述聚光镜用于汇聚光线；所述光电探测器用于收集光能量技术参数。使用该系统可一次性检测多项偏光片的光学技术参数，而且测量快速，精度高，操作简单，方便实用。

基本信息

专利标题：

一种偏光片光学性能测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021566925.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-31

授权号：

CN212807567U

授权日：

2021-03-26

发明人：

康政纲欧海宏徐飞

申请人：

深圳精创视觉科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华区龙华街道和平东路港之龙科技园科技孵化中心6楼E、I区

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021566925.X

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02 G01N21/25