一种用于测量岩土力学性能的光学测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于测量岩土力学性能的光学测量装置,包括测量平台底座、固定在所述测量平台底座上的岩土容纳装置、与所述岩土容纳装置配合的盖体、用于对待测量岩土加力的加力装置、用于拍摄待测量岩土的变形照片的摄像机以及用于分析变形照片的图像分析模块,所述岩土容纳装置透明、且内部真空还具有向上的开口,所述岩土容纳装置的内部容纳有待测量岩土,所述盖体上设置有注水口和供加力装置穿过的杆孔。本实用新型通过注水或外部加力的方式实现人工模拟岩土的围压受力状态,然后利用摄像机拍摄在受力变形状态过程中岩土的变形照片,并通过图像分析模块进行图像分析后,实现了对岩土的力学性能测量,结构简单方便,而且更加直观明确。

基本信息
专利标题 :
一种用于测量岩土力学性能的光学测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920624537.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-30
授权号 :
CN210037423U
授权日 :
2020-02-07
发明人 :
吴学兵张文明
申请人 :
智仿神州科技(武汉)有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋(原3)1单元1层01室227号
代理机构 :
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄君军
优先权 :
CN201920624537.3
主分类号 :
G01N3/06
IPC分类号 :
G01N3/06  G01N3/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
G01N3/06
专用的指示或记录配件
法律状态
2020-02-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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