一种半导体芯片吸嘴检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体芯片吸嘴检测装置，包括操作台、设置在操作台上的滑动轨道一和机架，所述滑动轨道一上设置有滑块一，所述滑块一上设置有转盘，所述转盘上设置有若干个吸嘴孔，所述滑块一上还设置有调节杆一；所述机架上设置有滑动轨道二，所述滑动轨道二上设置有滑块二，所述滑块二上连接有相机固定板，所述相机固定板上设置有工业相机，所述工业相机位于转盘上方，所述滑块二上还设置有调节杆二。本实用新型结构简单、检测方便。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体芯片吸嘴检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021678814.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-13
授权号 ：
CN213041755U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
俞旸华云杰
申请人 ：
江苏正维智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区新华路5号创新创意产业园B栋313室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021678814.8
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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