本实用新型公开了一种用于芯片制造中抽检装置，包括箱体及输送结构，所述箱体左右两侧面分别开设出料口以及进料口，所述输送结构穿过进料口及出料口，所述箱体内部顶部位置固接电机，所述电机轴承处固接主动齿轮，所述箱体顶部位于主动齿轮两侧位置固接两个滑轨。本实用新型在对芯片进行抽检时，只需要将芯片放置在放置筐内的放置槽处，即可进行抽检，检测的数据会会回显在显示屏上，无需人工进行手持探针操作，自动化程度高，此外，本实用新型探针为三个，可同时对三个芯片进行检测，效率高，另外本实用新型检测箱体内设有散热结构，使箱体内温度适宜，避免了芯片由于温度问题在抽检过程中出现损坏，避免了经济损失。