一种用于高可靠度芯片制造中抽检装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于高可靠度芯片制造中抽检装置，包括检测平台和伸缩气缸，所述检测平台内对称开设有两个安装腔，每个所述安装腔内均横向转动连接有转动杆，两个所述转动杆相对的一端均转动连接在安装腔的内壁上，两个所述转动杆相背的一端均贯穿检测平台的侧壁并固定安装有旋转把手，所述转动杆转动连接在检测平台的侧壁内，所述转动杆上对称固定安装有两个螺纹套，每个所述螺纹套上均螺纹连接有螺纹块，每个所述螺纹块的上端均固定安装有夹板，所述检测平台的上端面对称开设有两个与夹板相匹配的滑孔。本实用新型，可以同时对两个芯片本体进行检测，检测效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高可靠度芯片制造中抽检装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022338747.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-20
授权号 ：
CN213240424U
授权日 ：
2021-05-18
发明人 ：
李敏霞张珂珂曲传悟
申请人 ：
联暻半导体（山东）有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市中国（山东）自由贸易试验区济南片区经十路汉峪金谷人工智能大厦21层
代理机构 ：
汉中市铭源专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨悦
优先权 ：
CN202022338747.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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