一种新型环形干涉仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型环形干涉仪，涉及激光技术领域，该新型环形干涉仪包括：激光器、第一半波片、偏振合束器、半透半反镜、成像透镜、摄像头、第一直角棱镜、第二直角棱镜、第二半波片、第三直角棱镜以及第四直角棱镜。本实用新型将多余的一半反射光形成一个环路，可以循环重复利用多余的反射光，通过改变偏振态将原来的激光与多余的反射光合束后输出到摄像头上干涉，多余的反射光循环多次后强度接近原来的激光，大大提高了干涉强度，干涉强度可以提高至激光器的80％以上。
基本信息
专利标题 ：
一种新型环形干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022119245.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-24
授权号 ：
CN213067434U
授权日 ：
2021-04-27
发明人 ：
王川王辉文
申请人 ：
武汉东隆科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区关山四村关山一路469号56-1-5-2室
代理机构 ：
武汉智慧恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张熔舟
优先权 ：
CN202022119245.X
主分类号 ：
G01B9/02
IPC分类号 ：
G01B9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2021-04-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
