一种改进型的漫反射光谱测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种改进型的漫反射光谱测量装置,包括底座,固体旋转放置架结构,支撑柱,滑动管,横梁,夹紧螺栓,固体表面清扫架结构,电机,移动管,安装螺栓,连接架,封闭测量架结构,积分球,照射灯,测量探头安装管和待测固体,所述的固体旋转放置架结构设置在底座的上部;所述的支撑柱焊接在底座的上部左侧;所述的滑动管套接在支撑柱的外侧下部;所述的横梁焊接在滑动管的右侧;所述的夹紧螺栓螺纹连接在支撑柱和滑动管的连接处。本实用新型的有益效果为:通过封闭箱、固定管和箱盖的设置,有利于将积分球与外部光线隔绝,防止外部光线照射到积分球的内侧,影响对待测固体的测量结果,从而提高该装置的测量精度。
基本信息
专利标题 :
一种改进型的漫反射光谱测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022229958.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-09
授权号 :
CN213364581U
授权日 :
2021-06-04
发明人 :
王贵
申请人 :
陕西品佳科创半导体有限责任公司
申请人地址 :
陕西省商洛市山阳县城关街道办事处工业园区电子产业园6号楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022229958.1
主分类号 :
G01N21/49
IPC分类号 :
G01N21/49 G01N21/01 B08B1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
法律状态
2021-06-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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